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光学・半導体業界

世界シェア№1 インサーキットテスタ 「フライングプローブテスタ」

世界シェア№1  インサーキットテスタ 「フライングプローブテスタ」

世界トップクラスの超高速インサーキットテスト可能
基板検査装
置 「フライングプローブテスタ」

 

インサーキットテスタは電気的に検査を行うため、部品の定数間違いやコネクタやICリードのマイクロショートによる不良など、目視検査や目視支援検査装置では発見できない不良も確実に発見します!

● ハンダのショート・オープン不良
● 抵抗・コンデンサ・コイル等の定数間違いによる不良
● 抵抗・コンデンサ・コイル・ダイオード・トランジスタ等の部品欠品不良
● IC・コネクタのリード浮き不良
● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認…など
※ 上記は代表的な検査項目です。 製品により検査出来ない物や測定範囲は異なります。

特殊検査
● 電気的に検査不可能な部品の画像検査
● SOPやQFPなどのハンダ不良検査
● 簡易ファンクション検査…など

製品別の詳細は製品一覧もしくは資料請求を行って頂き、カタログでご確認ください。
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フライングプローブテスタ (フライング式)のメリット

 

CCDカメラによる位置補正(ピンコンタクト精度向上)

CCDカメラによる位置補正(ピンコンタクト精度向上)

エラー時の自動リトライ(誤判定不良の軽減)

エラー時の自動リトライ(誤判定不良の軽減)

 

プローブのストローク量、降下速度をフレキシブルに変更

エラー時の自動リトライ(誤判定不良の軽減)

電気的に検査できない部品をCCDカメラで光学検査
電気的に検査できない部品をCCDカメラで光学検査

 

フライングプローブテスタ(フライング式)のコストメリット

 

ランニングコスト

フライング式のコストメリット(ランニングコスト)
高額な検査治具の作成や、倉庫管理が不要

検査プログラム作成時間

フライング式のコストメリット(検査プログラム作成時間)
回路設計に関する専門的な知識は不要

 

インサーキットテスタ比較(治具式とフライング式の違い)

インサーキットテスタ比較(治具式とフライング式の違い)

 

フライングプローブテスタ導入事例

  • 治具式インサーキットテスタからの置き換え

・治具製作が困難な高密度基板
・治具コスト削減(価格、保管スペース)
・量産終了後の保守パーツ

  • 品質重視・信頼性を求められる基板の全数検査

・自動車/航空機/インフラ/医療/軍事など、ミスが許されない案件
・AOI(画像検査)やファンクションテストでは補えない実装不良の検査

  • 治具式インサーキットテスタからの置き換え

・治設計変更時の治具再作成が不要(プログラム変更のみ)
・試作段階から品質要求度が高い製品

  • 量産立ち上げ直後(治具完成までの期間)

・検査プログラム作成のみで、直ぐに検査が可能

  • 実装ライン切り替え時の初回品検査

・部品を両面テープ上に仮実装し、部品定数や実装位置違いが無いかを確認

  • 治具式インサーキットテスタからの置き換え

・後工程や市場から戻ってきた不良基板の解析
(回路の専門知識がなくても容易に故障個所を特定)

 

 

フライングプローブテスタ導入効果(お客様の声)

  • 設計変更時の対処コストを削減

基板回路の配線パターンが変更になっても、テストプログラムの修正のみで対処できる。
その他の対処は一切発生しないので余計な手間がない。

  • 高密度実装基板の検査可能

従来の治具式テスタでは不可能な、ランド間ピッチ0.25mm(10mil)にプローブをコンタクトできる。
テストランドの無い基板も容易にテストでき、より信頼性が向上できた。

  • 工程改善を早期に実現

基板の試作段階から使用できるため、不良内容や原因を素早く前工程にフィードバックしている。
基板の製造設計、アセンブリ工程の改善が生産の初期段階から行えるため、量産間近での大きなトラブルを未然に防げる。

 

ラインナップと仕様

ラインナップ

仕様(速度と精度)

 

 

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